ВНИИОФИ и МФТИ подготовят уникальных специалистов в нанометрологии Новости

ВНИИОФИ и МФТИ подготовят уникальных специалистов в нанометрологии

ВНИИОФИ и МФТИ подготовят уникальных специалистов в нанометрологии

   «Темпы научно-технологического развития ставят множество вызовов перед метрологией. Приходится с опережением создавать измерительные средства для инновационной продукции, которая еще не вышла на рынок, – отметил директор ВНИИОФИ Андрей Батурин.

   Одной из основных задач института является создание и совершенствование эталонной базы высшей точности в области оптики и фотоники. Скоро начнут внедряться многие разработки на основе терагерцовых и квантовых технологий, а также радиофотоники. Это потребует уже подготовленной национальной эталонной базы.

   «Для ответа на эти вызовы нам необходимы молодые кадры с сильной подготовкой в области фундаментальной физики и умением решать сложные мультидисциплинарные задачи. Этим всегда отличались студенты Физтеха», – добавил Андрей Батурин.

   К исследованиям на стыке метрологии и фундаментальной физики будут привлекаться студенты 4-6 курсов и аспиранты. Параллельно с освоением дисциплин они будут выполнять научно-исследовательскую работу в лабораториях института по различным направлениям: метрология терагерцового излучения, малофотонные источники и приемники для квантовых криптографических и коммуникационных систем, контроль параметров сверхмощного импульсного и непрерывного лазерного излучения и измерение динамических характеристик сверхбыстрых фотоприемников. Первая группа студентов, заинтересованных в поступлении на новую программу, уже посетила ВНИИОФИ с экскурсией.

   «ВНИИОФИ хорошо оснащен современным научным оборудованием. Это видно на примере действующих в институте Центра коллективного пользования и Центра метрологического обеспечения наноиндустрии. Институт сейчас наращивает свой научный потенциал, активно участвуя в исследованиях. Работа в метрологическом институте привлекает молодых ученых, желающих решать актуальные задачи с перспективой быстрого внедрения», – отметил заведующий кафедрой нанометрологии и наноматериалов, профессор Павел Тодуа.

Автор: Роман Саитмагометович Текилов  |   Другие публикации автора   |   Источник